Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Новини
Журнал
Пошта
Ви тут:
Головна
Фізика напівпровідникових матеріалів і структур та їх диагностики
Відділ оптики і спектроскопії напівпровідникових і діелектричних матеріалів
Publications
dep02
dep-02-before
EPR and emission study of silicon suboxide nanopillars
Фізика напівпровідникових матеріалів і структур та їх диагностики
Відділ структурного і елементного аналізу матеріалів і систем
Відділ іонно-променевої інженерії
Відділ оптики і спектроскопії напівпровідникових і діелектричних матеріалів
Лабораторія оптичної субмікронної спектроскопії
Радіоспектроскопії
Відділ електричних і гальваномагнітних властивостей напівпровідників
Фізика поверхні, оптоелектроніка і фотоніка
ТГц- і ІЧ- функціональна напівпровідникава мікро- та нанофотоелектроніка
Фізики і технології сенсорних систем
Відділи колективного користування
Деталі
Перегляди: 2461
V. Bratus
, I.
Indutnyi
, P.
Shepeliavyi
, T.
Torchynska
//
MRS
Proceedings
,
V
.
1617
,
P
. 1163 (2013)