- Деталі
- Перегляди: 2749
Olikh Ya.M., Savkina R.K., Vlasenko O.I. // Proc. Of Int. Conf. On Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics. OPTDIM’97.- Kiev (Ukraine): SPIE.- 1997.- Vol. 3359.- P. 232-235.
Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України |
Olikh Ya.M., Savkina R.K., Vlasenko O.I. // Proc. Of Int. Conf. On Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics. OPTDIM’97.- Kiev (Ukraine): SPIE.- 1997.- Vol. 3359.- P. 232-235.