Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України

Пошук

A. M. Kadykov, J. Torres, S. S. Krishtopenko, C. Consejo, S. Ruffenach, M. Marcinkiewicz, D. But, W. Knap, S. V. Morozov, V. I. Gavrilenko, N. N. Mikhailov, S. A. Dvoretsky, and F. Teppe, “Terahertz imaging of Landau levels in HgTe-based topological insulators” / Appl. Phys. Lett., vol. 108, no. 26, 2016.