Эпитаксиальные слои и сверхрешетки Si/Si1-xGex. Получение и структурные характеристики

V. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics of National Academy of Sciences of Ukraine

Ф.Ф.Сизов, Ю.Н.Козырев, В.П.Кладько, С.В.Пляцко, В.М.Огенко, А.П.Шевляков // Физика и техника полупроводников, 31, №8, с.922-925 (1997)

Nav view search