Чувствительность метода эллипсометрии в условиях возбуждения поверхностных поляритонов

V. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics of National Academy of Sciences of Ukraine

И.И. Буршта, Е.Ф. Венгер, С.Н. Завадский // Журнал технической физики, т.64, №10, с.191-193 (1994)

Nav view search