Сравнительная оценка методов спектроскопии отражения и поверхностных поляритонов при определении частоты собственных колебаний полупроводниковой плазмы

V. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics of National Academy of Sciences of Ukraine

Е.Ф. Венгер, А.В. Гончаренко, А.В. Мельничук, Ю.А. Пасечник // Журнал прикладной спектроскопии, т.56, №3, с.461-466 (1992)

Nav view search