- Деталі
- Перегляди: 5643
E. Atanassova, R.V. Konakova, V.F. Mitin, J. Koprinarova, O.S. Lytvyn, O.B. Okhrimenko, V.V. Schinkarenko, D. Virovska// Microelectronics Reliability, Vol. 45, 124-135 (2005)
![]() |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
|
E. Atanassova, R.V. Konakova, V.F. Mitin, J. Koprinarova, O.S. Lytvyn, O.B. Okhrimenko, V.V. Schinkarenko, D. Virovska// Microelectronics Reliability, Vol. 45, 124-135 (2005)