- Деталі
- Перегляди: 935
P. Sai, D. B. But, I Yahniuk, M. Grabowski, M. Sakowicz, P. Kruszewski, et all. Semicond. Sci. Technol. 34, no. 2, 024002 (2019). DOI: 10.1088/1361-6641/aaf4a7
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
|
P. Sai, D. B. But, I Yahniuk, M. Grabowski, M. Sakowicz, P. Kruszewski, et all. Semicond. Sci. Technol. 34, no. 2, 024002 (2019). DOI: 10.1088/1361-6641/aaf4a7