Деталі

Перегляди: 6435

A. M. Kadykov, J. Torres, S. S. Krishtopenko, C. Consejo, S. Ruffenach, M. Marcinkiewicz, D. But, W. Knap, S. V. Morozov, V. I. Gavrilenko, N. N. Mikhailov, S. A. Dvoretsky, and F. Teppe, “Terahertz imaging of Landau levels in HgTe-based topological insulators” / Appl. Phys. Lett., vol. 108, no. 26, 2016.