Исследование процессов переноса и накопления заряда во внутренних диэлектрических слоях SiO2 в КНИ струкурах, полученных зонной перекристаллизацией

V.E. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics NAS of Ukraine

National Academy of Sciences of Ukraine

You are here: Home

С.Н. Михайлов, А.Н. Назаров, В.С. Лысенко, Е.И. Гиваргизов и др.// Микроэлектроника, т.21, вып.3, C.3-13 (1992)

Nav view search