Determination of the depletion region thickness in X/γ-ray detectors with a Schottky contact.

Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України

Національна академія наук України

V.M. Sklyarchuk, V.A. Gnatyuk, T. Aoki. // 2017 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC). Proceedings, (2017) 1-3

Error: No articles to display

Навігаційний перегляд пошуку