Cryogenic investigations of SIMOX buried oxide parameters. In: Progress in SOI Structures and Devices Operating at Extreme Conditions

Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України

Національна академія наук України

Пошук

Ви тут: Головна

Наукові відділи

Publications

dep15

dep-15-before

Cryogenic investigations of SIMOX buried oxide parameters. In: Progress in SOI Structures and Devices Operating at Extreme Conditions

Деталі: Перегляди: 5924

Lysenko V.S., Tyagulski I.P., Osiyuk I.N. and Gomeniuk Y.V, ed. by F.Balestra et al., NATO ASI Series II, v.58, Kluwer Academic Publishers, Dordrecht, (2002) pp. 159-166.

Пошук

Навігаційний перегляд пошуку

Навігація