Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the method of main angle and multiangular ellipsometry

Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України

V.A. Odarych, A.Z. Sarsembaeva, F.F. Sizov, M.V. Vuichyk // Semicond. Phys. Quant. Electr., 9, p. 55 – 62 (2006)

Навігаційний перегляд пошуку