Absorptive CdTe films optical parameters and film thickness determination by the ellipsometric method

Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України

A.Z. Evmenova, V.A. Odarych, F.F. Sizov, M.V. Vuichyk // Optica Applicata, Vol. XXXVIII, No. 3, p. 585-600 (2008)

Навігаційний перегляд пошуку