Деталі

Створено: Четвер, 17 серпня 2017, 16:58

Автор: Alexander

Перегляди: 2416

Високочутливий елементний мас-спектрометричний аналіз - вже реальність!

   Колектив молодих співробітників ІФН НАНУ: Т.Сабов, О.Дубіковський, О.Колесніков,   С. Пономарьов та Д. Ярмоленко в стислий термін (травень-липень 2017 р.) провів титанічну роботу з монтажу, ремонту та налаштування обладнання, яке було передано нашому Інституту в якості гуманітарної допомоги.

  Вітаємо зав. відділу «іонно-променевої інженерії» Романюка Бориса Миколайовича та весь його колектив з запуском сучасного методу аналізу поверхні – вторинного іонного мас-спектрометра «Atomika - 4000». Наразі є можливість досліджувати елементний склад твердотільних об’єктів з межою чутливості 10¹⁴ ат.см^-3 Бажаємо трудової наснаги в реалізації планів та поставлених задач.

 Висловлюємо найщирішу подяку українській діаспорі Швейцарської Конфедерації: Романюку Андрію, Романюку Ярославу та депутату Київради Д. Москалю , які доклали великих зусиль по пошуку обладнання і забезпечили його поставку в Україну.