Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України

Пошук

Деталі
Перегляди: 19221

Konin K.P., Karas N.I., Morozovska D.V. // Abstracts of 17th Conference on Defects – Recognition, Imaging and Physicsin Semiconductors (DRIP XVII), Valladolid (Spain), P.117 (2017).