Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України

Пошук

Деталі
Перегляди: 17763

Konin K.P., Klad'ko V.P., Lytvynenko O.O., Morozovs'ka D.V. // Abstracts of 17th Conference on Defects – Recognition, Imaging and Physicsin Semiconductors (DRIP XVII), Valladolid (Spain), P.257 (2017).