Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Ви тут:
Головна
Проекти
Publications
dep06
dep-06-before
Investigation of structural imperfections in epitaxial layers of SiC
Деталі
Перегляди: 8324
S. Avramenko, M. Valakh, V. Kiselev, M. Skorokhod //
Met. Phys. Adv. Technol.
V.
20
, P. 21-28 (1998)