Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України

Пошук

Деталі
Перегляди: 13655

Konin K.P., Liptuga A.I., Lytvynenko O.O., Sizov F.F. // 18th Conference on Defects – Recognitions, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP - XVIII). Programme Abstracts, Berlin (Germany), P.215-216 (2019).