Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України

Пошук

Деталі
Перегляди: 14786

Konin K.P., Liptuga A.I., Lytvynenko O.O., Sizov F.F. // 18th Conference on Defects – Recognitions, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP - XVIII). Programme Abstracts, Berlin (Germany), P.215-216 (2019).