Determination of interface state density in high-k dielectric-silicon system from conductance-frequency measurements

Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України

Ви тут: Головна

Gomeniuk Y.V. Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, vol.15, №1, p. 1-7. (2012)

Навігаційний перегляд пошуку