Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України

Пошук

Деталі
Перегляди: 9054

V.I. Turchanikov, A.N. Nazarov, V.S. Lysenko, Josep Carreras, B. Garrido, Microelectronics Reliability, vol.45, pp.903–906 (2005)