Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України

Пошук

Деталі
Перегляди: 6692

I. Barchuk, V. Kilchytska, A. Nazarov, Microelectronics Reliability, vol.40, pp.811-814 (2000)