Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Ви тут:
Головна
Наукові відділи
Publications
lab11-2
lab11-2-before
Об определении концентрации уровней прилипания методом термостимулированной проводимости в полупроводникахых электронов и дырок
Логін
Пароль
Запам'ятати мене
Забули свій пароль?
Забули свій логін?
Деталі
Перегляди: 4914
М.К. Шейнкман, Н.Е. Корсунская //
УФЖ.-1967.-Т.12, №12.-С.2042-2051
.