Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Ви тут:
Головна
Наукові відділи
Publications
dep09
dep-09-before
Characterization of deep-levels in silicon nanowires by low-frequency noise spectroscopy
Логін
Пароль
Запам'ятати мене
Забули свій пароль?
Забули свій логін?
Деталі
Перегляди: 6853
A. Motayed, S. Krylyuk and A.V. Davydov // Appl. Phys. Lett.,V.99, P.113107 (2011)