Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Ви тут:
Головна
Наукові відділи
Publications
dep08
dep-08-before
Эпитаксиальные слои и сверхрешетки Si/Si1-xGex. Получение и структурные характеристики
Логін
Пароль
Запам'ятати мене
Забули свій пароль?
Забули свій логін?
Деталі
Перегляди: 7730
Ф.Ф.Сизов, Ю.Н.Козырев, В.П.Кладько, С.В.Пляцко, В.М.Огенко, А.П.Шевляков // Физика и техника полупроводников, 31, №8, с.922-925 (1997)