Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Ви тут:
Головна
Наукові відділи
Publications
dep08
dep-08-before
MCT sensor readout devices with charge current injection and preliminary seagnal treatment. Testing procedure
Логін
Пароль
Запам'ятати мене
Забули свій пароль?
Забули свій логін?
Деталі
Перегляди: 7103
F. F. Sizov, Yu. P. Derkach, V. P. Reva, Yu. G. Kononenko // Opto-Electronics Review, v.7, N4, pp.327-338 (1999)