Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Ви тут:
Головна
Наукові відділи
Publications
dep08
dep-08-before
Influence of free carrier heating on IR detection in narrow-gap semiconductors
Логін
Пароль
Запам'ятати мене
Забули свій пароль?
Забули свій логін?
Деталі
Перегляди: 7036
S.P. Asmontas, J. Gradauskas, D. Seliuta, E. Sirmulis, V. Tetyorkin, A. Urbelis and G. Valusis // Proc. SPIE, 2003, v.5123, p. 134-139.