Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Ви тут:
Головна
Наукові відділи
Publications
dep08
dep-08-before
Методика измерения темновых токов полупроводниковых многоэлементных структур при криогенних температурах
Логін
Пароль
Запам'ятати мене
Забули свій пароль?
Забули свій логін?
Деталі
Перегляди: 6916
Ф.Ф. Сизов, В.В. Забудський, А.Г. Голенков, Е.В. Андреева, Г.О. Губенко, И.А. Лысюк // КИП и автоматика, № 1, p.4–7 (2007)