Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Ви тут:
Головна
Наукові відділи
Publications
lab14-1
lab14-1-2015
Эллипсометрическое исследование формирования нанокомпозитов отжигом пленок SiOx в кислородсодержащей атмосфере
Логін
Пароль
Запам'ятати мене
Забули свій пароль?
Забули свій логін?
Деталі
Перегляди: 19754
Сопинский Н.В., Руссу А.В // Автометрия 2015, Т. 51, № 4. C. 121-127