Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Ви тут:
Головна
Наукові відділи
Publications
dep07
dep-07-2015
Silicon Submicron Rods Imaging by Surface Plasmon Resonance
Логін
Пароль
Запам'ятати мене
Забули свій пароль?
Забули свій логін?
Деталі
Перегляди: 21182
Rengevych O.V., Beketov G.V., UsheninYu.V. // Springer Proceedings in Physics - 2015, V.167 – P. 295-305