Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Ви тут:
Головна
Наукові відділи
Publications
dep07
dep-07-2016
X-ray Reciprocal Space Mapping of Graded AlxGa1-xN Films and Nanowires
Логін
Пароль
Запам'ятати мене
Забули свій пароль?
Забули свій логін?
Деталі
Перегляди: 21323
Stanchu H. V., Kuchuk A. V., Kladko V. P., Ware M. E., Mazur Yu. I., Zytkiewicz Z. R., Belyaev A. E., Salamo G. J. // Nanoscale research letters.–2016. – V.11, – P.81-87