V.E. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics NAS of Ukraine
National Academy of Sciences of Ukraine

Search

Control and Characterization Apparatus for Satellite Photovoltaic Panel Verification
 (CCA MARS-BF)

№41 Department of Physical and technical bases semiconductor fotoenerhetyky
Anatoliy P. Gorban, V.P. Costylov

Read more...

Nondestructive express-method of acoustic emission control and forecasting for stability and steadity to external influences of functional materials and structures

№ 17 The department  for problems of defect formation and nonequilibrium processes in complex semiconductors.
    A.I. Vlasenko O.V. Lyashenko, V.P. Veleschuk

Read more...

Акустический метод определения порога плавления полупроводников при импульсном лазерном облучении

№17 Отдел проблем дефектообразования и неравновесных процессов в сложных полупроводниках
А.И. Власенко, В.П. Велещук, А. Байдуллаева, О.В. Ляшенко

Read more...

Метод определения компонентного состава и механических напряжений в кремний-германиевых структурах электроники

№6 Отдел оптики и спектроскопии
   М.Я.Валах, В.О. Юхимчук

Read more...

Метод регистрации биокомплексов

№3 Отдел фотоэлектрических явлений в полупроводниках
Н. Е. Корсунская, Л.В.Борковская

Read more...

Метод модификации характеристик светоизлучающих гетероструктур А2В6 с квантовыми ямами

№3 Отдел фотоэлектрических явлений в полупроводниках
Н. Е. Корсунская, Л.В.Борковская

Read more...

Multifunction automated measuring-analytical complex for control, attestations and researches of the optron devices AВКПОС

№12 Department of Physics of optoelectronic devices
  P.F. Oleksenko, V.S Kretulis, I.E. Minakova

Read more...

Дифрактометр для измерений рентгено –акустического резонанса

№19 Отдел дифракционных исследований структуры полупроводников
В.Ф. Мачулин, В.П. Кладько

Read more...

The Centre for Solar Cell and Photovoltaic Panel Testing

№41 Department of Physical and technical bases semiconductor fotoenerhetyky
   Anatoliy P. Gorban, V.P. Costylov

Read more...

Acoustic emission express-method of control reliability of semiconductors light-emitting structures

№ 17 The department  for problems of defect formation and nonequilibrium processes in complex semiconductors
    A.I. Vlasenko, O.V. Lyashenko, V.P. Veleschuk

Read more...

Комплекс методов нанозондовой диагностики для новейших технологий

№11 Отдел електроннозондових методов структурного и элементного анализа полупроводниковых материалов и систем
И.В. Прокопенко, П.М.Литвин, О.С.Литвин

Read more...