Підвищення точності вимірювання лінійних розмірів мікро дефектів в деталях з оптично прозорих матеріалів за допомогою телевізійних засобів

V.E. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics NAS of Ukraine

National Academy of Sciences of Ukraine

You are here: Home

В.П. Маслов// Методи та прилади контролю якості, №2(28), с.96-101 (2013)

Nav view search