Спосіб лазерного контролю ступеня структурної досконалості кристалічних матеріалів. Патент на корисну модель № 70090 Україна, МПК (2006.01) G01N 21/39

V.E. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics NAS of Ukraine

National Academy of Sciences of Ukraine

Search

You are here: Home

Research divisions

Publications

dep12

dep-12-before

Спосіб лазерного контролю ступеня структурної досконалості кристалічних матеріалів. Патент на корисну модель № 70090 Україна, МПК (2006.01) G01N 21/39

Details: Hits: 4676

Є.Ф. Венгер, Н.В. Качур, О.Є. Лабузов, А.І. Ліптуга, В.П.Маслов, Р.В. Христосенко// Заявл. 21.11.2011; №u201113691, Опубл. 25.05.2012, Бюл.№10 (2012)

Search

Nav view search

Navigation