Влияние сопротивления линии связи на термометрическую характкристику кремниевых сенсоров температуры

V.E. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics NAS of Ukraine

National Academy of Sciences of Ukraine

You are here: Home

Н.Р. Кулиш, Е.Ф. Венгер, Ю.М. Шварц // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника, Т. 32, С. 83-86 (1997)

Nav view search