Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Фізики напівпровідникових матеріалів і структур та їх діагностики
Фізики поверхні, оптоелектроніки і фотоніки
ТГц- і ІЧ- функціональної напівпровідникової мікро- та нанофотоелектроніки
Відділ фізики і технології низьковимірних систем
Відділ кінетичних явищ та поляритоніки
Лабораторія інтерференційної фотолітографії
Відділ функціональних матеріалів і наноструктур
Фізики і технології сенсорних систем
Перспективні та інноваційні розробки
Деталі
Перегляди: 19752
Сопинский Н.В., Руссу А.В // Автометрия 2015, Т. 51, № 4. C. 121-127