- Деталі
- Перегляди: 10480
N.Lukyanchikova, N.Garbar, V.Kudina, A.Smolanka, E.Simoen, C.Claeys // Microelectronics Reliability – 2013. – V. 53, № 3. – P. 394–399.
 |
Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України |
N.Lukyanchikova, N.Garbar, V.Kudina, A.Smolanka, E.Simoen, C.Claeys // Microelectronics Reliability – 2013. – V. 53, № 3. – P. 394–399.