Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Ви тут:
Головна
Наукові відділи
Publications
dep08
dep-08-before
Absorptive CdTe films optical parameters and film thickness determination by the ellipsometric method
Логін
Пароль
Запам'ятати мене
Забули свій пароль?
Забули свій логін?
Деталі
Перегляди: 7178
A.Z. Evmenova, V.A. Odarych, F.F. Sizov, M.V. Vuichyk // Optica Applicata, Vol. XXXVIII, No. 3, p. 585-600 (2008)