Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України

Пошук

Perkin Elmer SPECTRUM BX II FT-IR System

Fourier transform infrared (FTIR) spectrometer Spectrum BX II serves for obtaining an infrared transmission or reflection spectra of investigated objects.

Field of applications

  • Research and Academia
  • Chemicals and Materials
  • Pharmaceuticals

Main technical specifications

  • spectral range 2 – 25 µm
  • spectral resolution  0.8 cm-1
  • signal-to-noise ratio 15000/1
  • scanning speed range  up to 1.5 cm·s-1
  • based on single beam scanning interferometer Dynascan
  • detector type - DTGS
  • built-in Sure Scan checking system

Contacts of developers: Ukraine, Kyiv. Contact person: Z. Tsybrii, e-mail: Ця електронна адреса захищена від спам-ботів. вам потрібно увімкнути JavaScript, щоб побачити її.