- Деталі
- Перегляди: 3543
Control and Characterization Apparatus for Satellite Photovoltaic Panel Verification
(CCA MARS-BF)
№41 Department of Physical and technical bases semiconductor fotoenerhetyky
Anatoliy P. Gorban, V.P. Costylov
- Деталі
- Перегляди: 3406
Nondestructive express-method of acoustic emission control and forecasting for stability and steadity to external influences of functional materials and structures
№ 17 The department for problems of defect formation and nonequilibrium processes in complex semiconductors.
A.I. Vlasenko O.V. Lyashenko, V.P. Veleschuk
- Деталі
- Перегляди: 3287
Акустический метод определения порога плавления полупроводников при импульсном лазерном облучении
№17 Отдел проблем дефектообразования и неравновесных процессов в сложных полупроводниках
А.И. Власенко, В.П. Велещук, А. Байдуллаева, О.В. Ляшенко
- Деталі
- Перегляди: 3479
Метод определения компонентного состава и механических напряжений в кремний-германиевых структурах электроники
№6 Отдел оптики и спектроскопии
М.Я.Валах, В.О. Юхимчук
- Деталі
- Перегляди: 3346
Метод регистрации биокомплексов
№3 Отдел фотоэлектрических явлений в полупроводниках
Н. Е. Корсунская, Л.В.Борковская
- Деталі
- Перегляди: 4153
Метод модификации характеристик светоизлучающих гетероструктур А2В6 с квантовыми ямами
№3 Отдел фотоэлектрических явлений в полупроводниках
Н. Е. Корсунская, Л.В.Борковская
- Деталі
- Перегляди: 3470
Multifunction automated measuring-analytical complex for control, attestations and researches of the optron devices AВКПОС
№12 Department of Physics of optoelectronic devices
P.F. Oleksenko, V.S Kretulis, I.E. Minakova
- Деталі
- Перегляди: 3790
Дифрактометр для измерений рентгено –акустического резонанса
№19 Отдел дифракционных исследований структуры полупроводников
В.Ф. Мачулин, В.П. Кладько
- Деталі
- Перегляди: 3397
The Centre for Solar Cell and Photovoltaic Panel Testing
№41 Department of Physical and technical bases semiconductor fotoenerhetyky
Anatoliy P. Gorban, V.P. Costylov
- Деталі
- Перегляди: 3613
Acoustic emission express-method of control reliability of semiconductors light-emitting structures
№ 17 The department for problems of defect formation and nonequilibrium processes in complex semiconductors
A.I. Vlasenko, O.V. Lyashenko, V.P. Veleschuk
- Деталі
- Перегляди: 3513
Комплекс методов нанозондовой диагностики для новейших технологий
№11 Отдел електроннозондових методов структурного и элементного анализа полупроводниковых материалов и систем
И.В. Прокопенко, П.М.Литвин, О.С.Литвин