- Details
- Hits: 5482
Г.В. Дорожинский, В.П. Маслов// 21я Международная конференция «Современные методы и средства неразрушающего контроля и технической диагностики», С.154-156 (2013)
 |
V.E. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics NAS of Ukraine
National Academy of Sciences of Ukraine |
Search
Nav view search
Navigation
