- Details
- Hits: 5554
Г.В. Дорожинский, А.В. Самойлов, Ю.В. Ушенин, В.П. Маслов// 19 ежегодная Международная конференция «Современные методы и средства неразрушающего контроля и технической диагностики» Гурзуф (Крым), с. 46-48 (2012)
V. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics of National Academy of Sciences of Ukraine
|
Г.В. Дорожинский, А.В. Самойлов, Ю.В. Ушенин, В.П. Маслов// 19 ежегодная Международная конференция «Современные методы и средства неразрушающего контроля и технической диагностики» Гурзуф (Крым), с. 46-48 (2012)