V.E. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics NAS of Ukraine
National Academy of Sciences of Ukraine

Search

Details
Hits: 5253

Е.Г. Борщаговский, У. Фишер, Т. Шмид, Р. Зеноби//  сб. «Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии» под ред. Чижика С.А. сс.235-239, Беларусская наука, Минск (2012)