Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України

Пошук

Деталі
Перегляди: 5280

Е.Г. Борщаговский, У. Фишер, Т. Шмид, Р. Зеноби//  сб. «Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии» под ред. Чижика С.А. сс.235-239, Беларусская наука, Минск (2012)