Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Фізики напівпровідникових матеріалів і структур та їх діагностики
Відділ структурного і елементного аналізу матеріалів і систем
Лабораторія електроннозондових методів структурного і елементного аналізу напівпровідникових матеріалів і систем
Відділ іонно-променевої інженерії
Відділ оптики і спектроскопії напівпровідникових і діелектричних матеріалів
Відділ електричних і гальваномагнітних властивостей напівпровідників
Фізики поверхні, оптоелектроніки і фотоніки
ТГц- і ІЧ- функціональної напівпровідникової мікро- та нанофотоелектроніки
Фізики і технології сенсорних систем
Перспективні та інноваційні розробки
Деталі
Перегляди: 6583
L. Borkovska
,
A Romanyuk
,
V. Strelchuk
,
Yu. Polishchuk
, V. Kladko,
O. Stroyuk
,
A. Raevskaya
,
T. Kryshtab
. //
ECS Transactions,
V.
66,
Issue
7, P.171-179 (2015).
http://dx.doi.org/10.1149/06607.0171ecst