Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Фізики напівпровідникових матеріалів і структур та їх діагностики
Відділ структурного і елементного аналізу матеріалів і систем
Лабораторія електроннозондових методів структурного і елементного аналізу напівпровідникових матеріалів і систем
Відділ іонно-променевої інженерії
Відділ оптики і спектроскопії напівпровідникових і діелектричних матеріалів
Відділ електричних і гальваномагнітних властивостей напівпровідників
Фізики поверхні, оптоелектроніки і фотоніки
ТГц- і ІЧ- функціональної напівпровідникової мікро- та нанофотоелектроніки
Фізики і технології сенсорних систем
Перспективні та інноваційні розробки
Деталі
Перегляди: 6382
N. Korsunska
,
T. Stara
,
L. Khomenkova
,
Yu. Poslishchuk
, V. Kladko,
K. Michailovska
,
M. Kharchenko
,
O. Gorban
. //
ECS Transactions,
V.
66
, Issue 1, P.313-319 (2015).
http://dx.doi.org/10.1149/06601.0313ecst