Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Фізики напівпровідникових матеріалів і структур та їх діагностики
Відділ структурного і елементного аналізу матеріалів і систем
Відділ іонно-променевої інженерії
Відділ оптики і спектроскопії напівпровідникових і діелектричних матеріалів
Лабораторія оптичної субмікронної спектроскопії
Радіоспектроскопії
Відділ електричних і гальваномагнітних властивостей напівпровідників
Фізики поверхні, оптоелектроніки і фотоніки
ТГц- і ІЧ- функціональної напівпровідникової мікро- та нанофотоелектроніки
Фізики і технології сенсорних систем
Перспективні та інноваційні розробки
Деталі
Перегляди: 7918
A. M. Yaremko, E. F. Venger, H. Ratajczak //
Synthetic metals
V.
102
, P. 1565-1566 (1999)