An EPR investigation of SiOx films with columnar structure

Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України

V. Bratus', I. Indutnyi, P. Shepeliavyi, T. Torchynska //Physica B. 453 (2014)26–28 // doi: 10.1016/j.physb.2013.11.060

Навігаційний перегляд пошуку