- Деталі
- Перегляди: 6555
Kuchuk A.V., Lytvyn A.V., Ch.Li, Stanchu H.V., Mazur Yu.I., Ware M.E.,Benamara М., Ratajczak R., Dorogan V., Kladko V.P., Belyaev A.E., Salamo A.E. // ACS Applied Materials & Interfaces. – 2015. – V.7,N41. - P. 23320–23327
 |
Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України |
Kuchuk A.V., Lytvyn A.V., Ch.Li, Stanchu H.V., Mazur Yu.I., Ware M.E.,Benamara М., Ratajczak R., Dorogan V., Kladko V.P., Belyaev A.E., Salamo A.E. // ACS Applied Materials & Interfaces. – 2015. – V.7,N41. - P. 23320–23327