X-ray Reciprocal Space Mapping of Graded AlxGa1-xN Films and Nanowires

Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України

Національна академія наук України

Пошук

Деталі: Перегляди: 19572

Stanchu H. V., Kuchuk A. V., Kladko V. P., Ware M. E., Mazur Yu. I., Zytkiewicz Z. R., Belyaev A. E., Salamo G. J. // Nanoscale research letters.–2016. – V.11, – P.81-87

Пошук

Навігаційний перегляд пошуку

Навігація